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专利名称：一种SRAM型FPGA的可靠性优化方法专利类型：发明专利
发明人：刘鸿瑾,杨孟飞,华更新,杨桦,刘波,龚健,董暘暘,张绍
林,王靖,彭飞,赵云富
申请号：CN201410844496.0申请日：20141230公开号：CN104579314A公开日：20150429
摘要：本发明提供一种针对SRAM型FPGA的可靠性优化方法，该方法包括如下步骤：以查找表LUT为单位，建立含有逻辑屏蔽效应的功能等价类；对网表中各查找表的可靠性进行评估；根据可靠性评估的结果，对于电路中输入地址线未完全使用的查找表，进行可靠性优化；对优化后的电路可靠性进行评估，计算优化效果；本发明充分利用FPGA电路中存在的空闲资源，在不带来额外面积开销的前提下有效提高电路可靠性，并且具有计算复杂度低，对电路性能影响小，不依赖于特定FPGA芯片物理结构，应用范围广等特点。
申请人：北京控制工程研究所
地址：100080 北京市海淀区2729信箱
国籍：CN
代理机构：中国航天科技专利中心
代理人：范晓毅
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